时序系统的状态组区别序列测试方法

• 作者: 曾成碧 陈光(踽)
• 来源期刊: 微电子学
• 学科: 工学
• 关键词: 时序电路 测试生成 状态组区别序列
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 188-192
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 4721字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-3365.2000.03.015

摘要

介绍了采用单变迁故障模型的时序系统状态组区别序列测试方法,通过选择状态组区别序列优化测试序列长度.这种测试生成方法比时序电路门级测试生成快得多,而且能达到很高的故障覆盖率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾成碧	四川大学电气信息学院	70	617	12.0	22.0