电荷注入检测器电感耦合等离子体光谱仪的稀土元素分析性能

• 作者: 宋崇立 辛仁轩
• 来源期刊: 分析化学
• 学科: 化学
• 关键词: 等离子体发射光谱 稀土元素 电荷注入检测器
• 年，卷（期）: 2000,（8）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 978-981
• 页数: 4页
• 分类号: O6
• 字数: 1057字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3820.2000.08.013

摘要

研究了电荷注入检测器电感耦合等离子体发射光谱( CID-ICPES)测定稀土元素的分析性能.结果表明,在稀土元素常用谱线波段内(260～440 nm)光谱背景发射强度低于40CPS(计数/秒),RSD＜0.6%.研究了谱线强度和相对标准 偏差的关系,当谱线强度高于5CPS时,对于任何稀土元素谱线的RSD均低于0.6%.谱线强度 降低时,RSD逐渐增大.文中给出了稀土元素常用分析谱线的强度值、线背比、背景等效浓度及检出限.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	辛仁轩	清华大学核能技术研究院	51	204	8.0	10.0
2	宋崇立	清华大学核能技术研究院	86	559	11.0	18.0