VLSI芯片平面图中不确定性问题研究

• 作者: 师军 曹菡
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 切片式平面图 不确定表示 可信度 度量计算
• 年，卷（期）: 2000,（6）
• 所属期刊栏目: 微电子技术
• 页码范围: 32-35
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2000.06.008

摘要

文章首先介绍了切片式平面图的表示及其主要特征,然后通过引入矩形模块高和宽的可信度,研究了切片式平面图中矩形模块的不确定性问题和相应的度量计算方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	师军	陕西师范大学计算机系	42	566	11.0	23.0
2	曹菡	陕西师范大学计算机系	52	517	12.0	21.0