统计公差与表面粗糙度的统计评定

• 作者: 李柱 熊峰 高咏生
• 来源期刊: 工程设计
• 学科: 工学
• 关键词: 统计公差 统计参数 表面粗糙度 统计评定
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 检测与数据处理
• 页码范围: 68-71
• 页数: 4页
• 分类号: TH161
• 字数: 2850字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3785/j.issn.1006-754X.2000.04.020

摘要

系统分析了现行几何公差标准及其体系的缺点，提出统计公差的特征及其合理性，明确提出“统计公差即统计参数的公差”，指出“统计公差是几何公差的发展方向”，并以表面粗糙度统计评定的发展说明统计公差的优越性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李柱	华中科技大学机械科学与工程学院	41	763	16.0	26.0
2	高咏生	香港科技大学机械工程系	21	297	11.0	17.0
3	熊峰	华中科技大学机械科学与工程学院	3	19	2.0	3.0