YBa2Cu3-xZnxO7-δ(x=0.0～0.5)体系的正电子寿命谱研究

• 作者: 张金仓 李喜贵 籍远明 邓冬梅 陈镇平
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 物理学
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 页码范围: 135-140
• 页数: 6页
• 分类号: O4
• 字数: 3210字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2000.02.011

摘要

利用正电子湮没谱方法,对Zn替代的YBa2Cu3-xZnxO7-δ(x=0.0～0.5)体系进行了系统研究,给出了正电子寿命参数随Zn替代含量x的变化.证明CuO2面载流子的不均匀分布乃是Zn替代引起超导电性退化的主要原因.讨论了Zn替代引起Y-123体系电子结构的变化特征并给出了初步的解释.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李喜贵	河南师范大学物理系	41	196	8.0	11.0
2	张金仓	河南师范大学物理系	10	46	5.0	6.0
3	邓冬梅	河南师范大学物理系	2	17	2.0	2.0
4	陈镇平	河南师范大学物理系	2	17	2.0	2.0
5	籍远明	河南师范大学物理系	1	4	1.0	1.0