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摘要:
介绍了荧光测温的原理,推导荧光测温各个环节的数学表达式,说明锁相环测荧光寿命的原理,给出各点的信号分析图.推导荧光寿命与锁相环输出频率的数学关系,提出选择锁相环参数的方法并给出图象说明.进行系统的误差分析.
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内容分析
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文献信息
篇名 锁相环技术在荧光法测温中的应用
来源期刊 传感器技术 学科 工学
关键词 温度测量 锁相环 荧光寿命
年,卷(期) 2000,(2) 所属期刊栏目 实用技术
研究方向 页码范围 38-40
页数 3页 分类号 TK311
字数 2371字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-9787.2000.02.015
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王玉田 燕山大学检测及仪表系 187 2131 24.0 35.0
2 孙卫新 燕山大学检测及仪表系 3 13 2.0 3.0
3 柴云霞 燕山大学检测及仪表系 3 13 2.0 3.0
传播情况
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1997(1)
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2000(0)
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2010(1)
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研究主题发展历程
节点文献
温度测量
锁相环
荧光寿命
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
传感器与微系统
月刊
1000-9787
23-1537/TN
大16开
哈尔滨市南岗区一曼街29号
14-203
1982
chi
出版文献量(篇)
9750
总下载数(次)
43
总被引数(次)
66438
论文1v1指导