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摘要:
<正> 随着电子工业不断扩展新的领域并改进现有产品,原始设备制造商(OEM)正在寻找新的方法使他们的产品更小、更轻和更便宜。从电学观点来看,集成电路的经典标准封装只增加很少的价值,这些封装保护IC免受外部环境的侵害,使芯片易于操作和测试。为消除经典封装和减小尺寸、重量、成本所做的努力,产生了新的替代方法,一般称之为芯片尺寸方法,其中包括倒装芯片(FC)和芯片级封装(CSP)。一、背景情况倒装芯片(FC)技术是在60年代首先由IBM公司设想并研制出来的。芯片级封装(CSP)最早被定义为增大面积不超过硅芯片面积20%的一种封装。FC
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集成电路
电磁兼容
设计方法
芯片
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 芯片级封装和倒装焊芯片封装的比较
来源期刊 电子元器件应用 学科 工学
关键词 芯片级封装 倒装焊芯片封装 微电子
年,卷(期) 2000,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 29-30
页数 2页 分类号 TN405.94
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1 王宏天 2 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
芯片级封装
倒装焊芯片封装
微电子
研究起点
研究来源
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研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元器件应用
月刊
1563-4795
大16开
西安市科技路37号海星城市广场B座240
1999
chi
出版文献量(篇)
5842
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7
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11366
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