CMOS电路内结点桥接故障的动态IDDQ可测性研究

• 作者: 张新林
• 来源期刊: 宝鸡文理学院学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 内结点 动态IDDQ测试 桥接故障
• 年，卷（期）: 2000,（1）
• 所属期刊栏目: 理论研究
• 页码范围: 56-58
• 分类号: TP306
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-1261.2000.01.016

摘要

采用了动态IDDQ测试方法来探讨静态CMOS电路桥接故障的可测性,详细证明了静态CMOS电路任意桥接故障都是动态IDDQ测试可测的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张新林	零陵师范专科学校计算机系	3	2	1.0	1.0