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功率MOS器件单粒子栅穿效应的等效电路模拟方法
功率MOS器件单粒子栅穿效应的等效电路模拟方法
作者:
唐本奇
王燕萍
耿斌
陈晓华
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
功率MOS器件
单粒子栅穿
电路模拟
摘要:
根据电路模拟软件PSPICE内建元器件模型,建立了功率MOS器件单粒子栅穿效应的等效电路模型和模型参数提取方法,对VDMOS器件的单粒子栅穿效应机理进行了电路模拟和分析,模拟结果与文献中的实验数据相符合,表明所建立的等效电路模拟方法是可靠的.
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内容分析
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(/年)
文献信息
篇名
功率MOS器件单粒子栅穿效应的等效电路模拟方法
来源期刊
计算物理
学科
工学
关键词
功率MOS器件
单粒子栅穿
电路模拟
年,卷(期)
2000,(1)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
77-81
页数
5页
分类号
TL99
字数
2396字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1001-246X.2000.01.014
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
唐本奇
32
248
9.0
13.0
2
王燕萍
11
66
6.0
7.0
3
耿斌
10
60
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陈晓华
11
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研究主题发展历程
节点文献
功率MOS器件
单粒子栅穿
电路模拟
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算物理
主办单位:
中国核学会
出版周期:
双月刊
ISSN:
1001-246X
CN:
11-2011/O4
开本:
大16开
出版地:
北京市海淀区丰豪东路2号
邮发代号:
2-477
创刊时间:
1984
语种:
chi
出版文献量(篇)
2353
总下载数(次)
3
总被引数(次)
12180
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