热成像系统性能测量及ICTS的应用

• 作者: 安培建 高教波
• 来源期刊: 应用光学
• 学科: 工学
• 关键词: 热成像系统 性能参数 测量
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 红外技术
• 页码范围: 8-11,15
• 页数: 5页
• 分类号: TN216-39
• 字数: 2391字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2082.2000.04.003

摘要

主要介绍了热成像系统性能测量的主观和客观测量技术,并对综合准直测试系统(ICTS)检测热像仪产品的测试结果进行分析和讨论

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高教波		48	245	9.0	12.0
2	安培建		1	0	0.0	0.0