钌系厚膜片式电阻器热处理工艺的研究

• 作者: 刘仲娥 李栋 赵鹏
• 来源期刊: 压电与声光
• 学科: 工学
• 关键词: 厚膜电阻器 温度系数 短时间过负载
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 所属期刊栏目: 压电及其他功能器件
• 页码范围: 81-82,89
• 页数: 3页
• 分类号: TM544
• 字数: 765字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-2474.2000.02.006

摘要

研究了热处理工艺对钌系厚膜电阻器的温度系数(TCR)和短时间过负载性能的影响,发现适当的热处理工艺可以改善厚膜电阻器的电性能.为探讨热处理工艺对电阻膜层微观结构的影响,对热处理前后的电阻膜层进行了SEM形貌分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李栋	天津大学电信工程学院	18	247	10.0	15.0
2	刘仲娥	天津大学电信工程学院	22	147	6.0	11.0
3	赵鹏	天津大学电信工程学院	42	293	11.0	15.0