纳米颗粒材料表面形貌结构AFM表征中针尖干扰的修正与评价

• 作者: 力虎林 吕维刚 杨得全 熊玉卿 郭云
• 来源期刊: 物理
• 学科: 物理学
• 关键词: 原子力显微镜 校正因子 宽化作用 纳米材料
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 237-240
• 页数: 4页
• 分类号: O4
• 字数: 2252字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0379-4148.2000.04.011

摘要

原子力显微镜(AFM)被广泛地用来进行纳米尺度和亚微米尺度结构材料的形貌表征,其优点是制样简单、无需进行导电处理.但当针尖与样品作用时,由于针尖自身的成像作用,导致得到的图像结果比实际结果要大,这就是针尖的放大效应.文章基于一种简单的数学模型,得到了对实测图像的修正结果.对于一般金字塔形针尖,AFM的放大作用可导致粒子尺寸比真实尺寸大近2倍.实测图像的失真状况与针尖的形状因子、粒子的分散状态等因素有关.结论与实验结果完全一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	力虎林	兰州大学化学系	68	1402	21.0	35.0
2	吕维刚	兰州大学化学系	2	41	2.0	2.0
3	杨得全	中国空间技术研究院兰州物理研究所	1	31	1.0	1.0
4	郭云	中国空间技术研究院兰州物理研究所	5	91	4.0	5.0
5	熊玉卿	中国空间技术研究院兰州物理研究所	5	66	3.0	5.0