平板导体中裂纹缺陷探伤涡流场的求解

• 作者: 盛剑霓 邵可然 陈德智
• 来源期刊: 中国电机工程学报
• 学科: 工学
• 关键词: 涡流检测 裂纹 平板导体 正问题 数值模拟
• 年，卷（期）: 2000,（7）
• 页码范围: 62-65,70
• 页数: 5页
• 分类号: TM13
• 字数: 3023字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-8013.2000.07.015

摘要

裂纹缺陷是涡流检测中最常遇到的缺陷类型.根据裂纹的特点,可以把它近似为一个没有厚度的面缺陷,其作用由分布在裂纹面上的等效电流偶极子层代替.使用积分方程法计算其涡流场问题,只需要很小的计算量.以前的工作都以无限厚导体为求解对象,文中研究了有限厚平板导体,结果表明它更加接近涡流检测的真实情况.线圈阻抗的计算值与实验结果进行了比较,吻合很好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	盛剑霓		35	359	12.0	17.0
2	陈德智	华中理工大学电力工程系	7	101	6.0	7.0
3	邵可然	华中理工大学电力工程系	6	79	4.0	6.0