专用集成电路设计中的芯核和设计复用技术

• 作者: 刘百勇 郑学仁 龚雪皓
• 来源期刊: 微电子学
• 学科: 工学
• 关键词: 专用集成电路 芯核 设计复用 验证模型 电子设计自动化 片上系统
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 所属期刊栏目: 综合评述
• 页码范围: 113-116
• 页数: 4页
• 分类号: TN492
• 字数: 4626字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-3365.2000.02.012

摘要

在"片上系统"等高复杂度的芯片设计中,典型的知识产权产品--芯核的应用以及设计复用技术越来越成为流行的关键设计技术.文中全面地介绍了芯核的含义、选用原则、基于芯核的芯片设计的验证模型和解决方案,以及芯核对EDA技术和产业的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘百勇	华南理工大学应用物理系	6	37	2.0	6.0
2	郑学仁	华南理工大学应用物理系	72	463	12.0	17.0
3	龚雪皓	华南理工大学应用物理系	3	34	2.0	3.0