冲洗色谱特征点法测定表面分形维数初探

• 作者: 侯镜德 冯建跃 周立勇 肖贻崧
• 来源期刊: 分析测试学报
• 学科: 化学
• 关键词: 冲洗色谱特征点 吸附等温线 表面分形维数
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 15-18
• 页数: 4页
• 分类号: O647.33|O657.7
• 字数: 2587字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4957.2000.03.005

摘要

在用非线性气相色谱测填料表面分形维数中, 首次运用气固色谱ECP法(elution by characteristic points method), 测定了正戊烷、正己烷、正庚烷3种烷烃在不同颗粒大小的硅胶表面的吸附等温线, 通过拟合Langmuir方程, 求出单分子饱和吸附容量, 并采用单分子层吸附的分形模型, 求得硅胶的表面分形维数, 提供了一种测定表面分形维数的新方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖贻崧	浙江大学分析测试中心	3	43	1.0	3.0
2	周立勇	浙江大学分析测试中心	1	1	1.0	1.0
3	侯镜德	浙江大学分析测试中心	11	291	7.0	11.0
4	冯建跃	浙江大学分析测试中心	73	1073	19.0	30.0