用常规测井资料识别裂缝发育程度的方法

• 作者: 卢颖忠 管志宁 黄智辉
• 来源期刊: 测井技术
• 关键词: [裂缝发育程度] 裂缝性储集层 测井数据 参数 岩性识别
• 年，卷（期）: 2000,（6）
• 所属期刊栏目: 处理解释
• 页码范围: 428-432
• 页数: 5页
• 分类号: TE2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1338.2000.06.007

摘要

裂缝发育程度在裂缝性地层的研究中非常重要。提出了利用常规测井资料识别裂缝发育程度的新参数和方法。根据裂缝的存在能增加地层的导电性和裂缝性地层电阻率曲线特征，提取反映浅、中、深探测范围内裂缝发育程度的3个参数，即SR／RXO、SR2／（RXO*RI)和SR3／（Rt*RI*RXO ）；在模型样本上确定出非裂缝层的电阻率和以上3参数识别裂缝发育程度的标准，然后用于识别非模型样本的裂缝发育程度。在新疆某油田裂缝性砂砾岩地层的应用表明，效果良好。