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摘要:
岩溶是导致地层塌陷的主要原因.利用反射系数K法解释电测深ρs曲线,能突出溶洞引起的异常,明显地反映出地下溶洞的存在.
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文献信息
篇名 反射系数K法在岩溶探测中的应用
来源期刊 物探与化探 学科 地球科学
关键词 电阻率测深 反射系数K法 岩溶
年,卷(期) 2000,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 225-229
页数 5页 分类号 P631.3
字数 3798字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-8918.2000.03.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈绍求 中南工业大学地质系 4 21 2.0 4.0
2 肖志强 中南工业大学地质系 2 12 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
电阻率测深
反射系数K法
岩溶
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物探与化探
双月刊
1000-8918
11-1906/P
大16开
北京学院路29号遥感中心
2-334
1979
chi
出版文献量(篇)
3832
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3
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39106
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