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片式膜电阻器的典型失效模式、机理及原因分析
片式膜电阻器
工艺流程
失效模式
失效机理
失效分析
片式膜电阻器过电应力失效模式及机理研究
片式膜电阻器
失效模式
失效机理
可靠性
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片式厚膜电阻器
三防
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厚膜片状电阻器开路失效分析
厚膜片状电阻器
开路失效
波峰焊
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 厚膜片式电阻器开路失效分析
来源期刊 电子元器件应用 学科 工学
关键词 厚膜片式 电阻器 开路失效分析
年,卷(期) 2000,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 35-36
页数 2页 分类号 TM54
字数 语种
DOI
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 雷云燕 2 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
厚膜片式
电阻器
开路失效分析
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元器件应用
月刊
1563-4795
大16开
西安市科技路37号海星城市广场B座240
1999
chi
出版文献量(篇)
5842
总下载数(次)
7
总被引数(次)
11366
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