单粒子烧毁、栅穿效应的电路模拟与测试技术

• 作者: 唐本奇 杜凯 王燕萍 耿斌
• 来源期刊: 电力电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电路模拟 测试技术/功率MOS器件 单粒子烧毁 单粒子栅穿
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 器件与测试
• 页码范围: 56-59
• 页数: 4页
• 分类号: TN7
• 字数: 2628字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-100X.2000.04.020

摘要

建立了功率MOS器件单粒子烧毁、栅穿效应的等效电路模型,介绍了模型参数提取方法.采用PSPICE电路模拟程序,对单粒子烧毁、栅穿效应机理进行了模拟和分析,建立了利用Cf-252裂片源模拟空间重离子单粒子烧毁、栅穿效应的测试装置.实验结果表明,本文建立的模拟方法、测试系统和实验方法是可行的和可靠的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐本奇		32	248	9.0	13.0
2	王燕萍		11	66	6.0	7.0
3	耿斌		10	60	6.0	7.0
4	杜凯		2	2	1.0	1.0