铁电陶瓷材料性能退化机理

• 作者: 李承恩 贺连星
• 来源期刊: 硅酸盐通报
• 学科: 工学
• 关键词: 铁电材料 老化 疲劳 电阻率退化 氧空位
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 综合评述
• 页码范围: 50-53,47
• 页数: 5页
• 分类号: TQ17
• 字数: 3806字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1625.2000.04.012

摘要

对铁电陶瓷材料老化、疲劳及电阻率退化的物理机制进行了综合评述.着重讨论了氧空位与畴界、晶界以及陶瓷材料和电极的界面的相互作用对铁电陶瓷材料性能退化的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贺连星	中国科学院上海硅酸盐研究所	6	138	4.0	6.0
2	李承恩	中国科学院上海硅酸盐研究所	16	468	8.0	16.0