自适应门限下杂波恒虚警算法

• 作者: 吴顺君 张慧燕
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 恒虚警检测 重要采样技术 自适应检测门限
• 年，卷（期）: 2000,（1）
• 所属期刊栏目: 学术论文和技术报告
• 页码范围: 105-109
• 页数: 5页
• 分类号: TN957.51
• 字数: 2325字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2000.01.025

摘要

以服从瑞利分布、韦布尔分布和对数正态分布的3类杂波为例,介绍了自适应检测门限下利用重要采样技术计算杂波的虚警概率以及在给定虚警概率的情况下杂波参数的设置和估计问题,给出了这些杂波中单脉冲信号的发现概率与信杂比及虚警概率在计算机上的仿真结果.当只知道杂波分布情况时,可用重要采样方法来计算其虚警概率,减少了实验次数和计算时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴顺君	西安电子科技大学雷达信号处理国家重点实验室	212	2480	26.0	37.0
2	张慧燕	西安电子科技大学雷达信号处理国家重点实验室	1	0	0.0	0.0