能谱涨落统计特征稳定性分析

• 作者: 罗久里 肖长明 蒋卫华
• 来源期刊: 原子与分子物理学报
• 学科: 其他
• 关键词: 能谱涨落统计特征稳定性 邻间距谱 MKS无参量试验法
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 页码范围: 641-646
• 页数: 6页
• 分类号: O582
• 字数: 3362字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0364.2000.04.012

摘要

通过引入权重,并用一能级数等于简并谱的无趋向性序列为标准去衡量简并邻间距谱的趋向性,由此建立分析简并谱涨落统计特征稳定性的MKS无参量试验法;根据该方法,具体分析、比较了H2O分子低激发态与高激发态振动能谱涨落统计特征,找出了从低激发态向高激发态过度时涨落统计特征明显改变点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗久里	四川大学化学系	39	138	6.0	10.0
2	肖长明	湖南师大物理系	2	2	1.0	1.0
6	蒋卫华		1	1	1.0	1.0