高温超导薄膜器件的计算机数据采集测量系统

• 作者: 漆汉宏 郑东宁 陈烈 陈珂 魏艳君
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 总线 计算机测量 曲线 标定
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 所属期刊栏目: 自动测试·过程控制
• 页码范围: 16-18
• 页数: 3页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2000.03.006

摘要

用IEEE-488总线将电流源、纳伏表和锁相放大器等连接构成一个计算机测量分析系统,采用基于Windows的Labview测量程序,可实现对高温超导薄膜器件进行R-T曲线、I-V曲线、X-T曲线等的测量,通过AD卡采集数据,还可实现SQUIDs器件所测电磁信号的频谱分析,测量结果准确可靠,而且可以精确标定.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏艳君	燕山大学电气工程学院	33	307	8.0	17.0
2	郑东宁	中科院物理所国家超导实验室	4	22	3.0	4.0
3	陈珂	中科院物理所国家超导实验室	1	4	1.0	1.0
4	陈烈	中科院物理所国家超导实验室	1	4	1.0	1.0