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摘要:
利用X射线光电子谱对液相外延HgCdTe薄膜表面氧化特性进行了研究,对经不同工艺过程处理的HgCdTe表面进行了测量、分析,结果表明碲镉汞表面经溴-无水乙醇溶液腐蚀后,再用乳酸-乙二醇溶液对表面进行处理,可获得氧化物极少甚至无氧化的HgCdTe表面.说明HgCdTe表面钝化前的预处理直接影响钝化层/HgCdTe的界面特性.
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文献信息
篇名 液相外延碲镉汞薄膜表面氧化特性的光电子能谱研究
来源期刊 物理学报 学科 物理学
关键词
年,卷(期) 2000,(1) 所属期刊栏目 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
研究方向 页码范围 132-136
页数 5页 分类号 O4
字数 3687字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-3290.2000.01.028
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李毅 华中理工大学光电工程系 5 40 4.0 5.0
2 易新建 华中理工大学光电工程系 20 146 7.0 11.0
3 蔡丽萍 华中理工大学光电工程系 2 7 2.0 2.0
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物理学报
半月刊
1000-3290
11-1958/O4
大16开
北京603信箱
2-425
1933
chi
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