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功率晶体管击穿电压与硅片电阻率的取值关系
功率晶体管击穿电压与硅片电阻率的取值关系
作者:
李茵
陈中祥
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
开关功率晶体管
击穿电压
电阻率
摘要:
介绍了用于节能灯照明电路的高耐压功率晶体管的反向击穿电压、饱和压降和开关时间等参数的设计要求.合理选用硅片单晶材料的电阻率,对器件工艺设计和制造起到了关键作用.
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文献信息
篇名
功率晶体管击穿电压与硅片电阻率的取值关系
来源期刊
半导体技术
学科
工学
关键词
开关功率晶体管
击穿电压
电阻率
年,卷(期)
2000,(3)
所属期刊栏目
器件研究与制造
研究方向
页码范围
32-33
页数
2页
分类号
TN304.07
字数
1443字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1003-353X.2000.03.009
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开关功率晶体管
击穿电压
电阻率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
主办单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1003-353X
CN:
13-1109/TN
开本:
大16开
出版地:
石家庄179信箱46分箱
邮发代号:
18-65
创刊时间:
1976
语种:
chi
出版文献量(篇)
5044
总下载数(次)
38
总被引数(次)
24788
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