热分解氧化反应对 TiO2电容压敏电阻器性能的影响

• 作者: 方湘怡 武明堂 罗建军
• 来源期刊: 无机材料学报
• 学科: 工学
• 关键词: TiO2电容压敏电阻器 CuO MnO2 晶界势垒
• 年，卷（期）: 2000,（1）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 93-96
• 页数: 4页
• 分类号: T722
• 字数: 1986字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-324X.2000.01.016

摘要

研究了具有热分解氧化反应的CuO、MnO2等的一类氧化物对TiO2压敏电阻器性能的影响,采用C-V分析、I-V测量和介电测量等实验手段,分析了它们的作用机理. 结果发现,在晶界处发生的热分解氧化反应能增加界面态密度,提高晶界势垒高度,从而改善TiO2电容压敏电阻器的非线性性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方湘怡	西安交通大学电信学院	9	46	4.0	6.0
2	武明堂	西安交通大学电信学院	7	65	5.0	7.0
3	罗建军	西安交通大学电信学院	6	61	4.0	6.0