8-羟基喹啉铝处干SiO气凝胶纳米孔中的光谱特性研究

• 来源期刊: 南京大学学报(自然科学版)
• 学科: 化学
• 关键词: SiO气凝胶 纳米孔洞 化学吸附
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 页码范围: 427-430
• 页数: 4页
• 分类号: O657
• 字数: 1849字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0469-5097.2000.04.007

摘要

制备了块状的SiO气凝胶，把具有很好电致发光(EL)和光致发光(PL)性能的8-羟基喹啉铝渗入到气凝胶的纳米孔洞中。可见—紫外吸收光谱表明8-羟基喹啉铝在SiO气凝胶的纳米孔洞中发生了化学吸附，且吸附作用随着气凝胶密度的减小而增强；PL谱中8-羟基喹啉铝的光致发射谱峰从470nm移至450nm。