X射线荧光法对镁铬砂成分的定量测定

• 作者: 林淑芝 欧阳昌俊 胡晓静 陈新
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光 镁铬砂 基体校正
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 页码范围: 431-434
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34
• 字数: 1883字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.2000.04.019

摘要

本文利用X射线荧光光谱仪同时测定镁铬砂中的SiO2、CaO、Fe2O3、Al2O3、Cr2O3、TiO2、MgO等主要成分的含量,采用合理的制片方法消除了矿物效应和颗粒效应,采用基体校正法基本上消除了基体效应.实验表明:该方法简便快速、精密度高、准确度好,结果较为满意.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡晓静		39	214	9.0	11.0
2	陈新		10	44	4.0	6.0
3	林淑芝		3	5	1.0	2.0
4	欧阳昌俊		10	71	5.0	8.0