应变片在动态测试中疲劳规律的研究

• 作者: 王瑞金
• 来源期刊: 机电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 应变片 动态测试 疲劳 测量栅 零点漂移 灵敏度
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 电器电工技术
• 页码范围: 66-68
• 页数: 3页
• 分类号: TP212
• 字数: 2116字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4551.2000.04.026

摘要

针对应变片在长时间的动态测试中疲劳失效(一般是测量误差超过允许值)问题,本文从疲劳断裂力学的基本理论出发,导出了应变片疲劳寿命的计算公式;实验表明,实验曲线与理论曲线吻合,这证明我们推导的公式的正确性,为应变片的疲劳寿命的预测、许可载荷的确定、失效判据的确立提供了理论基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王瑞金		6	170	5.0	6.0