X射线荧光光谱法测定氟石中的氟化钙和杂质的含量

• 作者: 应晓浒 林振兴
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱法 氟石
• 年，卷（期）: 2000,（1）
• 页码范围: 78-81
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.2000.01.016

摘要

本文采用Li2B4O7:LiBO2=12:22作熔剂制备氟石熔融片,用波长色散X射线荧光光谱仪测定氟石中的CaF2、SiO2、Fe2O3、SO3、P2O5.本法测量准确度、精密度较好,所得结果与湿法化学分析结果一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林振兴		65	372	10.0	17.0
2	应晓浒		17	147	9.0	11.0