小角X射线散射中Porod正偏离的校正

• 作者: 吴东 孙予罕 李志宏 柳义 王俊 生文君 董宝中 赵军平
• 来源期刊: 化学学报
• 学科: 化学
• 关键词: 小角X射线散射 Porod定理 正偏离校正
• 年，卷（期）: 2000,（9）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1147-1150
• 页数: 4页
• 分类号: O6
• 字数: 1843字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0567-7351.2000.09.017

摘要

当散射体系中除散射体外还存在微电子密度起伏时,实测散射强度将形成对Porod定理的正偏离,从而使散射体的散射失真.提出了一种在长狭缝准直条件下应用模糊强度校正正偏离的方法:作出ln[q3I(q)]～q2曲线,用公式n[q3I(q)]=ln K'+σ2q2拟合大波矢区直线,求出斜率σ2,作出ln[q3I(q)]-σ2q2～q2曲线即为无偏离的Porod曲线,由此曲线再还原出无偏离的散射强度,即I'(q)=exp{ln[q3I(q)]-σ2q2}/q3,再以醇热法合成的介孔氧化锆粉体为例进行了讨论.