无失效数据时电器产品可靠性的估计

• 作者: 唐义良 王景芹 陆俭国
• 来源期刊: 系统工程与电子技术
• 学科: 数学
• 关键词: 可靠性试验 失效分析 可靠性指标
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 78-80
• 页数: 3页
• 分类号: O213.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-506X.2000.03.024

摘要

对于比较贵重、寿命很长及检查项目较多的航空、航天电器产品,在进行可靠性试验时,通常会出现无失效数据,应用经典方法估计其可靠性特征量会引入较大误差.提出采用不定时检查的方法对其进行可靠性试验,并应用Bayes理论对试验中可能出现无失效数据时的可靠性特征量进行了估计.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆俭国		132	1621	21.0	31.0
2	唐义良		14	384	9.0	14.0
3	王景芹		117	645	13.0	20.0