LC正弦振荡电路在无损检测中的应用

• 作者: 郑世林
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 振荡电路 无损检验 涂层 厚度测量
• 年，卷（期）: 2000,（9）
• 页码范围: 394-396
• 页数: 3页
• 分类号: TM13
• 字数: 2077字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6656.2000.09.003

摘要

无损测厚是工程技术中一个重要课题.介绍一个LC振荡电路的测厚装置,其测量原理及装置都非常简单,而测量结果能与专门的超声波测厚仪相媲美.对铁磁材料本身缺陷的探测也有很好的应用,而且造价低、体积小、现场应用方便.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑世林	咸宁师范高等专科学校物理系	5	9	1.0	3.0