碱溶ICP-AES法同时测定AlSi/SiC复合材料中的高含量硅和低含量镁、钛、铁

• 作者: 董天祥 谢绍金
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 化学
• 关键词: ICP-AES Al-Si/SiC 硅 镁 钛 铁
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 页码范围: 341-346
• 页数: 6页
• 分类号: O657|O657.31
• 字数: 2701字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.2000.03.025

摘要

本文采用碱溶ICP-AES法对AlSi/SiC复合材料中的高含量硅和低含量镁、钛、铁的测定进行研究,着重进行基体元素铝及待测定元素硅、镁、钛、铁之间的干扰试验,进行了碱度试验和酸度试验,测定了AlSi/SiC复合材料中的硅、镁、钛、铁含量,得到了较好的精密度和准确度.方法简便可靠,可获得满意的分析结果.