提高单片机控制的AD转换器采样频率

• 作者: 刘军 杨玉国
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 外部系统总线 采样频率 转换结果缓冲器SRAM
• 年，卷（期）: 2000,（6）
• 所属期刊栏目: 电路设计与应用
• 页码范围: 36-38
• 分类号: TP391
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1390.2000.06.009

摘要

简单介绍巧用51单片机的外部系统总线,进行特殊的外部扩展连接,并给出相应的实现程序.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘军	鞍钢钢铁学校电气科	1	10	1.0	1.0
2	杨玉国		3	32	2.0	3.0