LRL校准法及其在微波测量中的应用

• 作者: 刘仁厚 廖进昆
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 微波测量 校准 去嵌入 散射参量
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 页码范围: 149-152
• 页数: 4页
• 分类号: TM931
• 字数: 1004字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2000.02.010

摘要

讨论了微波器件的测量问题,阐明了LRL(Line-Reflect-Line)校准法的物理模型.应用微波网络理论建立了基本方程,运用矩阵方法推导出待测件散射参量的闭定式表达式.由于利用代数消去法,去除了嵌入参量相位不确定性引入的误差,LRL法可用于微波晶体管测试夹具的去嵌入.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	廖进昆	四川大学通信工程系	7	51	4.0	7.0
2	刘仁厚	电子科技大学微波测试中心	1	12	1.0	1.0