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模拟集成电路大有可为
模拟集成电路大有可为
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摘要：
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CMOS模拟集成电路匹配技术及其应用
模拟集成电路
版图
匹配
运放
基于IEEE1149．4的模拟集成电路性能测试技术研究
模拟集成电路
可测性设计
功能测试
IEEE1149.4
模拟集成电路多目标遗传算法优化设计
模拟集成电路
设计自动化
电路多目标优化
多目标遗传算法
模拟集成电路版图中的对称检测与提取方法
模拟电路版图
计算机辅助设计
对称检测
内容分析
关键词云
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期刊影响力
电子产品世界
主办单位：
中国科学技术信息研究所(ISTIC)
美国国际数据集团(IDG)
出版周期：
月刊
ISSN：
1005-5517
CN：
11-3374/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市复兴路15号138室
邮发代号：
82-552
创刊时间：
1993
语种：
chi
出版文献量（篇）
11765
总下载数（次）
14
总被引数（次）
19602
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