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摘要:
为改善集成电路测试仪对器件编程和建库的效率,根据可视化和易于用户编程的要求提出了一种方案,并用填写器件功能表的方式成功予以实现.本文叙述了方案的选择确定,研究了对各种不同的数字器件运用功能表的编程方法,说明了器件编程效率的明显提高及程序在可移植性和标准化方面的进展.并进而探讨了可编程逻辑器件的编程自动化及模拟器件的可视化编程问题.
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文献信息
篇名 一种基于功能表的可视化器件编程方案的探索与实现
来源期刊 测控技术 学科 工学
关键词 集成电路测试 器件编程 可视化
年,卷(期) 2000,(9) 所属期刊栏目 软件纵横
研究方向 页码范围 41-44
页数 分类号 TP3
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-8829.2000.09.014
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 管建和 中国地质大学计算机教研室 14 227 4.0 14.0
2 柴大勇 2 2 1.0 1.0
3 费俊明 2 2 1.0 1.0
4 赵昌顺 1 0 0.0 0.0
传播情况
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引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (3)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1998(3)
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2000(0)
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研究主题发展历程
节点文献
集成电路测试
器件编程
可视化
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
测控技术
月刊
1000-8829
11-1764/TB
大16开
北京2351信箱《测控技术》杂志社
82-533
1980
chi
出版文献量(篇)
8430
总下载数(次)
24
总被引数(次)
55628
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