原子力显微镜在涂层分析中的应用

• 作者: 刘斌 孟繁强 尚永春
• 来源期刊: 涂料工业
• 学科: 工学
• 关键词: 原子力显微镜 涂层 聚结程度 分析
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 所属期刊栏目: 分析测试
• 页码范围: 38-40
• 页数: 3页
• 分类号: TQ63
• 字数: 2475字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0253-4312.2000.02.014

摘要

原子力显微镜(AFM)是近年来迅速发展起来的一种重要的分析测试工具.本文在简述AFM工作原理的基础上,综述了AFM在涂层分析若干方面的新应用,并对AFM在涂料领域的应用前景作了展望.