电力电容器进行直流耐压试验的危害

• 作者: 倪学锋 张浩奋 林浩 贾申龙
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电力电容器 全膜绝缘介质 直流耐压试验
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 所属期刊栏目: 专题论述
• 页码范围: 69-71
• 页数: 3页
• 分类号: TM533+.1|TM835
• 字数: 2731字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2000.03.028

摘要

对全膜绝缘介质电容器进行直流耐压试验的危害进行了理论分析和试验研究,结果表明全膜绝缘介质电容器进行直流耐压试验,无论是电压分布的机理,还是试验效果同交流都是不一样,直流耐压试验中将发生故障元件检出率低和电压分布不均匀等现象,并导致绝缘良好的元件击穿.建议全膜电容器不使用直流耐压试验.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	倪学锋	国家电力公司武汉高压研究所	4	52	3.0	4.0
2	林浩	国家电力公司武汉高压研究所	3	23	2.0	3.0