IRIS(CID)-ICP-AES法同时测定聚合物PDXL过程产物中的硫和钠

• 作者: 许实
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 化学
• 关键词: ICP-AES CID(电荷注入检测器) 硫 钠
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 页码范围: 388-391
• 页数: 4页
• 分类号: O657.31
• 字数: 1636字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.2000.04.006

摘要

本文报道采用IRIS(CID)全谱等离子体光谱仪,同时测定高分子聚合物PDXL研制过程产物中硫和钠的含量.样品制成10%硝酸溶液后用180.734nm硫的谱线和589.592nm钠的谱线分别测定硫和钠.方法的检出限S为3.9μg/L,Na为1.4μg/L,RSD均小于0.3%,与标准加入法及燃烧法对照,结果吻合得很好,方法快速、简便.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许实	上海交通大学分析测试中心	21	273	6.0	16.0