CCD增维测量原理及其在二维光电准直仪中的应用

• 作者: 寇欣宇 王向军
• 来源期刊: 计量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 光电自准直仪 光电检测 增维测量
• 年，卷（期）: 2000,（7）
• 所属期刊栏目: 测量与设备
• 页码范围: 27-30
• 页数: 4页
• 分类号: TH7
• 字数: 1576字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0771.2000.07.010

摘要

详细讨论了CCD增维测量原理,并将此原理应用于光电自准直仪的设计中.分析了制约测量范围的因素,通过对分划板刻线形式的改进,将CCD的像面利用率提高了60%,文中详细描述了测量系统的机构布置,最后给出了实验结果

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王向军	天津大学精密仪器与光电子工程学院	109	913	15.0	26.0
2	寇欣宇	天津大学精密仪器与光电子工程学院	8	140	5.0	8.0