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摘要:
以提高生产成品率为目标,利用神经网络的非线性和容错性,对半导体芯片生产过程进行了分析和优化,具体内容如下:(1)使用神经网络方法建立模型,确定生产线上工艺参数和成品率之间的映射关系,构造以工艺参数为输入,成品率为输出的多维函数曲面.(2)对上述多维函数曲面进行搜索,搜索成品率最高的最优点,以该最优点的工艺参数值为依据确定工艺参数的规范值.(3)对工艺参数规范进行优化,在实际生产工艺中反复实践,直至达到提高成品率的目的.生产实践证明,神经网络的分析结果是合理的.根据神经网络分析提出的优化建议,有效地提高了工序能力指数和产品成品率的一致性,具有实际应用价值.
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文献信息
篇名 基于神经网络方法的半导体生产工艺优化
来源期刊 半导体学报 学科
关键词 半导体生产 工艺优化 神经网络
年,卷(期) 2000,(2) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 192-196
页数 5页 分类号
字数 4455字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2000.02.017
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 石林初 华晶电子集团公司双极设计所 2 13 1.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
半导体生产
工艺优化
神经网络
研究起点
研究来源
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研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
出版文献量(篇)
6983
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8
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