晶体表面宏观迹线分析方法及其应用

• 作者: 张永刚 李玉清 李蓬
• 来源期刊: 金属学报
• 学科: 工学
• 关键词: 晶体表面 宏观迹线 分析方法 Ti-56Al单晶
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 页码范围: 212-216
• 页数: 5页
• 分类号: TG115.213.9|TG146.23
• 字数: 2984字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0412-1961.2000.02.022

摘要

从晶体表面宏观迹线配置,提出精确确定各种晶系晶体的取向、计算单晶3个相互垂直表面上基体和孪晶中滑移面和孪生面等迹线分布的方法;作为应用实例,精确确定了一种四方点阵结构的Ti-56Al(原子分数,%)单晶的宏观取向,计算和拟合出试样3个不严格垂直表面的指数及其上全部迹线分布.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张永刚	北京航空航天大学材料科学与工程系	55	552	13.0	21.0
2	李玉清	大冶特殊钢股份有限公司技术中心	11	47	4.0	6.0