一台入射距离为155mm的XUV平场光谱仪

• 作者: 张保汉 张杰 李英俊 杨建伦
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 掠入射平场谱仪 软X射线
• 年，卷（期）: 2000,（5）
• 所属期刊栏目: ICF与激光等离子体
• 页码范围: 582-584
• 页数: 3页
• 分类号: TH744.15
• 字数: 1253字
• 语种: 中文

摘要

利用光路追踪程序对不同入射距离的变栅距平场光栅的成像进行了研究和设计.在此基础上研制了一台与传统平场光栅谱仪不同的入射狭逢到光栅中心距离为155mm的掠入射平焦场谱仪.该谱仪的波段范围为4～40nm,光谱分辨率为0.01nm.利用该谱仪成功地获得了Ti元素的激光等离子体光谱.