激光等密度等倾干涉条纹法测定透明介质的厚度和折射率

• 作者: 刘小廷 吴启元 李季平 蔡云良
• 来源期刊: 物理实验
• 学科: 工学
• 关键词: 迈克尔孙干涉仪 等密度等倾干涉条纹 测量
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 所属期刊栏目: 实验技术与技巧
• 页码范围: 38-39,41
• 页数: 3页
• 分类号: TN2
• 字数: 2453字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-4642.2000.03.020

摘要

提出用迈克尔孙干涉仪等密度等倾干涉条纹法测定透明介质(玻璃、薄膜等)的厚度和折射率的方法.实验证明,这种方法是正确、有效和简便的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李季平	南京航空航天大学理学院	13	44	4.0	6.0
2	刘小廷	南京航空航天大学理学院	17	103	6.0	9.0
3	蔡云良	南京航空航天大学理学院	9	44	4.0	6.0
4	吴启元	南京航空航天大学理学院	2	12	1.0	2.0