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摘要:
用慢正电子技术研究了在溅射时不加偏压,衬底加热300℃,纯Ar气氛下制备的用Y2O3稳定的ZrO2薄膜材料(简称YSZ薄膜),发现了YSZ薄膜在不同深度处的缺陷分布情况,退火温度对YSZ薄膜缺陷有影响.简要讨论了致密、优质YSZ薄膜的制备方法.
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热障涂层
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 第2系列ZrO2(Y2O3)薄膜的慢正电子研究
来源期刊 物理学报 学科 物理学
关键词 慢正电子束 ZrO2(Y2O3)薄膜 表面缺陷
年,卷(期) 2000,(7) 所属期刊栏目 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
研究方向 页码范围 1352-1355
页数 4页 分类号 O4
字数 3136字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-3290.2000.07.028
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 周先意 中国科学技术大学现代物理系 32 128 7.0 10.0
2 韩荣典 中国科学技术大学现代物理系 23 125 6.0 10.0
3 翁惠民 中国科学技术大学现代物理系 28 92 5.0 8.0
4 邹道文 江西师范大学物理系 19 155 7.0 12.0
5 邹柳娟 华中理工大学物理系 5 8 2.0 2.0
6 夏风 华中理工大学物理系 5 3 1.0 1.0
7 黄千峰 中国科学技术大学现代物理系 1 0 0.0 0.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
慢正电子束
ZrO2(Y2O3)薄膜
表面缺陷
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理学报
半月刊
1000-3290
11-1958/O4
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2-425
1933
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