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摘要:
对SrS:Eu和SrS:Eu,Sm激发初始阶段的荧光上升过程和余辉进行了研究,并进一步考证其中电子陷阱的属性.通过两种样品和两个阶段的比较,对陷阱数量和深度的变化、量子效率以及电子俘获和释放、复合过程进行了分析,发现Sm离子并不影响陷阱的数量.利用吸收光谱方法研究了SrS:Eu,Sm中电子由陷阱能级向导带的跃迁.通过陷阱饱和-倒空吸收谱差,即激励吸收谱及其强度随Eu,Sm浓度的变化,探讨了掺杂浓度对陷阱浓度和光存储饱和量的影响.结果表明Sm离子的作用是使陷阱能级加深从而能稳定地储存电子.通过激励吸收谱峰值强度可确切地比较光存储材料在这方面的性能,并与光激励谱的测量方法作了对照.
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文献信息
篇名 SrS:Eu与SrS:Eu,Sm中电子陷阱与光存储研究
来源期刊 物理学报 学科 物理学
关键词 电子陷阱 光存储 电子俘获 光激励发光
年,卷(期) 2000,(7) 所属期刊栏目 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
研究方向 页码范围 1377-1382
页数 6页 分类号 O4
字数 5295字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-3290.2000.07.033
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王永生 北方交通大学光电子技术研究所 26 151 7.0 10.0
2 孙力 北方交通大学光电子技术研究所 15 136 7.0 11.0
3 何志毅 北方交通大学光电子技术研究所 4 39 3.0 4.0
4 徐叙瑢 北方交通大学光电子技术研究所 24 320 10.0 17.0
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研究主题发展历程
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电子俘获
光激励发光
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