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摘要:
用脉冲激光镀膜法,在不同的温度和氧压条件下,在Si(100)片上制备了一系列的CeO2膜.X射线衍射分析表明,在较低的氧压下生长的CeO2膜为(111)取向,在较高的氧压下生长的膜则为(100)取向.研究表明,CeO2膜的取向对氧压显示了独特的依赖性,氧压对控制膜的结晶取向具有十分重要的作用.讨论了氧压对CeO2薄膜结晶取向影响的可能机理.
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关键词热度
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文献信息
篇名 气氛氧压对脉冲激光法制备的CeO2/Si薄膜的结晶取向的影响
来源期刊 功能材料 学科 工学
关键词 CeO2薄膜 结晶取向 脉冲激光沉积 气氛氧压
年,卷(期) 2000,(2) 所属期刊栏目 研究与开发
研究方向 页码范围 159-161
页数 3页 分类号 TQ174.758.11
字数 2134字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1001-9731.2000.02.018
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 熊光成 北京大学物理系 25 63 4.0 7.0
2 范守善 清华大学物理系 11 43 3.0 6.0
3 林揆训 汕头大学科学院材料所 29 339 9.0 18.0
4 李美亚 汕头大学科学院材料所 2 5 2.0 2.0
8 王忠烈 1 3 1.0 1.0
9 赵清太 1 3 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
CeO2薄膜
结晶取向
脉冲激光沉积
气氛氧压
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
功能材料
月刊
1001-9731
50-1099/TH
16开
重庆北碚区蔡家工业园嘉德大道8号
78-6
1970
chi
出版文献量(篇)
12427
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