半导体光放大器的快速饱和效应及其长度对TOAD解复用器性能的影响

• 作者: 叶培大 谢崇进
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 光时分复用 解复用器 半导体光放大器 全光信号处理 快速增益饱和
• 年，卷（期）: 2000,（6）
• 所属期刊栏目: 实验技术与元件
• 页码范围: 525-530
• 页数: 6页
• 分类号: TN248|O43
• 字数: 4070字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-7025.2000.06.010

摘要

分析了半导体光放大器(SOA)的快速饱和效应及其长度对TOAD解复用器性能的影响,对小开关窗口和大开关窗口两种工作模式进行了研究.经分析发现,半导体光放大器的快速增益饱和效应对开关窗口的形状和开关能量都有很大的影响,而且开关能量随控制脉冲宽度的变化关系对两种工作模式是完全不同的.研究表明考虑SOA长度效应后,第二个开关窗口的幅度可大大减小,这说明适当地增加半导体光放大器的长度可以进一步降低TOAD的开关窗口,提高TOAD的速率.